試驗(yàn)熱沖擊試驗(yàn)（Thermal Shock Testing）常被稱作溫度沖擊試驗(yàn)（Temperature Shock Testing）或者溫度循環(huán)（Temperature Cycling）、高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。

溫度沖擊按照GJB 150.5A-2009 3.1的說法，是裝備周圍大氣溫度的急劇變化，溫度變化率大于10度/min，即為溫度沖擊。MIL-STD-810F 503.4(2001)持相類似的觀點(diǎn)。

個(gè)人認(rèn)為不能因此理解為大于這個(gè)速率的試驗(yàn)就是溫度沖擊試驗(yàn)。溫度沖擊試驗(yàn)的速率比這個(gè)現(xiàn)實(shí)情況要嚴(yán)苛。經(jīng)常能聽到說溫度沖擊的速率大于20度/min,30度/min,50度/分鐘，甚至更快。

溫度變化原因有很多，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)里面都有提及：

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)N:溫度變化

3 溫度變化的現(xiàn)場條件

電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。

下列情況下，可預(yù)見快速的溫度變化：

——當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)；

——當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí)；

——安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；

——在某些運(yùn)輸和貯存條件下。

通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。

當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。

GJB 150.5A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

3.2應(yīng)用

3.2.1正常環(huán)境

本試驗(yàn)適用于可能會(huì)在空氣溫度發(fā)生急劇變化的地方使用的裝備。本試驗(yàn)僅用來評價(jià)溫度急劇變化對裝備的外表面、安裝在外表面的零部件、或裝在靠近外表面的內(nèi)部零部件的影響。典型情況如下：

A) 裝備在熱區(qū)域和低溫環(huán)境之間轉(zhuǎn)換；

B) 通過高性能運(yùn)載工具，從地面高溫環(huán)境升到高空（只是熱到冷）；

C) 僅用外部材料（包裝或裝備表面材料）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，從處在高空和低溫條件下熱的飛機(jī)防護(hù)殼體內(nèi)向外空投。

3.2.2安全性和環(huán)境應(yīng)力篩選

除3.3所述外，本試驗(yàn)適用于提示裝備暴露在低于極端溫度變化速率（只要試驗(yàn)條件下不超過裝備的設(shè)計(jì)極限）下通常出現(xiàn)的安全性問題和潛在的缺陷。本試驗(yàn)雖然用作環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS），但經(jīng)適當(dāng)工程處理后，也可以將其作為一個(gè)篩選試驗(yàn)（使用更極端溫度的溫度沖擊），用來揭示裝備暴露在低于極端溫度條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷。

溫度沖擊的效應(yīng)

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4.1.2 環(huán)境效應(yīng)

溫度沖擊通常對靠近裝備外表面的部分影響更嚴(yán)重，離外表面越遠(yuǎn)（當(dāng)然，與相關(guān)材料的特性有關(guān)），溫度變化越慢，影響越不明顯。運(yùn)輸箱、包裝等還會(huì)減小溫度沖擊對封閉的裝備的影響。急劇的溫度變化可能會(huì)暫時(shí)或永久地影響裝備的工作。下面是裝備暴露于溫度沖擊環(huán)境時(shí)可能引發(fā)的問題示例?？紤]以下典型問題，有助于確定本試驗(yàn)是否適用于受試裝備。

A) 典型物理效應(yīng)有：

1) 玻璃容器和光學(xué)儀器的碎裂；

2) 運(yùn)動(dòng)部件的卡緊或松弛；

3) 爆炸物中固態(tài)藥丸或藥柱產(chǎn)生裂紋；

4) 不同材料的收縮或膨脹率、或誘發(fā)應(yīng)變速率不同；

5) 零部件的變形或破裂；

6) 表面涂層開裂；

7) 密封艙泄漏；

8) 絕緣保護(hù)失效。

b)典型化學(xué)效應(yīng)有：

1）各組分分離；

2）化學(xué)試劑保護(hù)失效。

C）典型電效應(yīng)有：

1）電氣和電子元器件的變化；

2）快速冷凝水或結(jié)霜引起電子或機(jī)械故障；

3）靜電過量。

溫度沖擊試驗(yàn)的目的：工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和量產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和量產(chǎn)驗(yàn)收決策提供依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。

溫度變化試驗(yàn)的類型，根據(jù)IEC和國家標(biāo)準(zhǔn)，分為三種：

1、 試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化；空氣；

2、 試驗(yàn)Nb：規(guī)定變化速率的溫度變化；空氣；

3、 試驗(yàn)Nc：兩液槽法快速溫度變化；液體；

上面3種試驗(yàn)，1、2以空氣作為介質(zhì)，第3種以液體（水或其它液體）作為介質(zhì)。1、2的轉(zhuǎn)換時(shí)間較長，3的轉(zhuǎn)換時(shí)間較短。

標(biāo)準(zhǔn)：

IEC 60068-2-14：2009《環(huán)境試驗(yàn)第2~14部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》

GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》

MIL-STD-810F  方法503.4：溫度沖擊試驗(yàn)

GJB  150.5A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)》

GJB 150.5-1986

MIL-STD-202G 方法107G：熱沖擊試驗(yàn)

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》中的方法107溫度沖擊試驗(yàn)。

MIL-STD-883, Method 1010, Temperature Cycling

JESD22-A104D, Temperature Cycling

JESD22-A106B

JIS C 680068-2-14:2011（替代JIS C0025:1988）

JASO D 001

EIA The air-to-air thermal shock test is JESD22-A104D "Temperature Cycling"

EIA The liquid-to-liquid thermal shock test is JESD22-A106B "Thermal Shock"

EIA-364-32E-2008

EIAJ ED-2531A

GB897.4-2008/IEC60086-4：2007

GJB548B-2005方法1011.1

GJB128A-97方法1056

ISO 16750-4:2010 Road vehicles — Environmental conditions and testing for electrical and electronic equipment — Part 4: Climatic loads

GMW3172_AUG2008 電氣/電子元件通用規(guī)范---環(huán)境/耐久性 9.4.2

等標(biāo)準(zhǔn)。

試驗(yàn)參數(shù)包括下列各項(xiàng)：

——試驗(yàn)室環(huán)境溫度；

——高溫；

——低溫；

——暴露持續(xù)時(shí)間；

——轉(zhuǎn)換時(shí)間或變化速率；

——試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。